高压孔隙结构仪

装备编号 WHRSM2012XG003
装备状态 正常
购买时间 2011-06-27 00:00:00
主要用途 用于室内测定土壤、粉、电池原料等颗粒以及多孔材料的表面积、孔分布及真密度等特性,评估其实用性能。
负责人 王静
联系电话 027-87199209
主要功能 一、设备简介 本实验测试分析系统利用汞对材料不浸润的特性,采用人工加压的方式使汞进入材料内部孔隙,通过高精度压力传感器和标准体积膨胀计测量样品的注汞和退汞曲线,结合结构分析模型计算样品的孔径结构、孔隙度及真密度等参数。 二、技术参数 1、低压站: 压力范围: 0.23~50 psi 2、传感器精度:±0.11% 3、孔直径范围:950~4.26 μm 4、高压站: 压力范围: 20~33,000 psi 5、传感器精度:≤±0.05% 6、孔直径范围:10.66~0.0064 μm
其他备注 214471265@qq.com
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