|
| |
| 装备编号 | WHRSM2012XG002 |
| 装备状态 | 正常 |
| 购买时间 | 2011-06-27 00:00:00 |
| 主要用途 | 用于室内测定物相检索；物相定量分析；嵌镶尺寸（晶粒大小）及微观应力（晶格畸变）测定；线形分析：除函数拟合法外，含独家开发的基本参数法分析软件。 |
| 负责人 | 王静 |
| 联系电话 | 027-87199209 |
| 主要功能 | 一、设备简介 本实验测试分析系统是通过对置于分光器（测角仪）中心的样品上照射X射线，X射线在样品上产生衍射，改变X射线对样品的入射角度和衍射角度的同时，检测并记录X射线的强度，可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系，可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进行定量分析。除此以外，通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析，还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。 二、技术参数 1、X光管： 光管类型 封闭型X光管 Cu靶； 2、最大管流： 80 mA； 3、测角仪： 测角仪采用光学编码器技术； 4、最小步进角：0.0001；角度重现性：0.0001； 5、最高定位速度：1500？/min； 6、探测器类型：半导体阵列探测器 高温 7、附件 温度范围：室温~1600℃ |
| 其他备注 | 214471265@qq.com |
附件下载：
